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激光雷達(dá)領(lǐng)域的新秀利器—SPAD23激光雷達(dá)（LiDAR）技術(shù)以其精準(zhǔn)的距離測量和三維建模成像能力，在多個行業(yè)中發(fā)揮著重要作用。這項技術(shù)主要通過發(fā)射激光脈沖并測量這些脈沖與物體碰撞后返回的時間來工作，從而獲得高精度的空間數(shù)據(jù)。不僅能夠進(jìn)行測距還能進(jìn)行復(fù)雜場景的計算成像等等。激光雷達(dá)技術(shù)已廣泛應(yīng)用于以下行業(yè)：地理空間測繪、考古學(xué)、自動駕駛車輛、農(nóng)業(yè)、林業(yè)管理、城市規(guī)劃、災(zāi)害管理、建筑和建筑管理、交互式媒體和藝術(shù)、太陽能和風(fēng)能項目、軍事和國防、礦業(yè)和地質(zhì)學(xué)、基礎(chǔ)設(shè)施和建設(shè)、大氣研...
查看全文熒光成像內(nèi)窺鏡—激光技術(shù)在醫(yī)療成像與治療中的創(chuàng)新應(yīng)用內(nèi)窺鏡檢查是腫瘤學(xué)中檢測和切除并且已經(jīng)逐漸成為腫瘤的腫瘤或癌前病變的特別重要的工具。內(nèi)窺鏡成像通常使用正常白光進(jìn)行。然而某些腫瘤在白光下可能難以檢測到，因為所有結(jié)構(gòu)都被照亮，對惡性病變沒有特異性。因此，通過對患者使用特殊的熒光染料，使熒光染料優(yōu)先積聚到惡性病變中，這樣在特定波長的光被激發(fā)時，惡性組織和健康組織之間的對比度就會增加，此為熒光成像內(nèi)窺鏡。熒光成像內(nèi)窺鏡在醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用背景涉診斷與評估治療效果。在腫瘤檢測方面，研究顯...
查看全文成像式亮度色度計產(chǎn)品原理及應(yīng)用介紹成像式亮度色度計工作原理：成像式亮度色度計是一種基于成像原理來進(jìn)行測光和測色的測量儀器，基本結(jié)構(gòu)是由視覺（或色覺）匹配的探測器（ccd或cmos）、光學(xué)系統(tǒng)以及與亮度（或三刺激值XYZ）成比例的信號輸出處理系統(tǒng)所組成。單點(diǎn)亮度計測試系統(tǒng)成像式亮度色度計測試系統(tǒng)亮度測試原理：根據(jù)圖利用光度學(xué)和幾何光學(xué)的原理可以推出:公式（1）式中：E-成像面上的照度;L-發(fā)光面上的亮度;τ-光學(xué)系統(tǒng)的透射比（透過率）;f-透鏡焦距;l-透鏡與發(fā)光面的距離（稱為...
查看全文解析ppln晶體在量子技術(shù)加速商業(yè)化的關(guān)鍵作用（二）：產(chǎn)品應(yīng)用非線性晶體，尤其是PPLN晶體，以其優(yōu)異的性能在量子技術(shù)領(lǐng)域扮演著重要角色。現(xiàn)在，讓我們轉(zhuǎn)向?qū)嶋H應(yīng)用，看看這些科研單位和公司是如何利用MgO:PPLN晶體的，并聽聽他們的評價。*本文來源于英國Covesion公司的案例研究。上海昊量光電是Covesion公司在中國地區(qū)的合作伙伴。太空認(rèn)證的非線性光學(xué)堅固型量子激光器(SNORQL)銣原子磁光阱（Rb-MOT）作為下一代量子技術(shù)，可以實現(xiàn)超靈敏的重力測量。衛(wèi)星重力遙感...
查看全文解析ppln晶體在量子技術(shù)快速商業(yè)化的關(guān)鍵作用（一）：應(yīng)用技術(shù)量子技術(shù)，曾經(jīng)似乎是僅存在于科幻小說中的天方夜譚，但如今逐漸深入到我們的日常中改善我們的生活。而在前端的科研領(lǐng)域，如量子通信和量子計算機(jī)，量子技術(shù)同樣令人興奮，影響也將越來越顯著，而非線性光學(xué)晶體（NLO）將在該技術(shù)的商業(yè)化過程中發(fā)揮關(guān)鍵作用。*本文來源于英國Covesion公司《Non-linearOpticalCrystalsUsedforQuantumTechnology》。量子技術(shù)主要這三個領(lǐng)域內(nèi)多種應(yīng)用中...
查看全文在這個納米級的世界里，每一層薄膜的厚度都可能決定著一個器件的性能，甚至影響整個系統(tǒng)的功能。因此，對膜厚進(jìn)行精確測量成為了科研與生產(chǎn)中的核心環(huán)節(jié)。膜厚測量儀，作為微觀世界的“量尺”，正以其精準(zhǔn)度讓每一層薄膜的厚度都盡在掌握之中。膜厚測量儀其核心競爭力在于“”。不同于傳統(tǒng)的測量方法，它能夠以納米級的精度對薄膜的厚度進(jìn)行測量，且誤差極小。這一技術(shù)的突破，源于對光學(xué)、電子學(xué)以及材料科學(xué)等多個領(lǐng)域的深入研究與交叉融合。通過采用先進(jìn)的測量原理，如橢偏測量、X射線熒光分析或掃描電子顯微鏡技...
查看全文在材料科學(xué)的廣闊天地里，薄膜材料以其物理、化學(xué)性質(zhì)，在電子、光學(xué)、生物醫(yī)療、能源轉(zhuǎn)換與存儲等領(lǐng)域展現(xiàn)出了無限“膜”力。從半導(dǎo)體芯片上的精密涂層到太陽能電池板的高效光吸收層，薄膜的質(zhì)量和性能往往決定了整個系統(tǒng)的功能和效率。而在這其中，膜厚的精確測量是確保薄膜質(zhì)量、優(yōu)化材料性能的關(guān)鍵步驟。近年來，膜厚測量儀的問世，正為這一領(lǐng)域注入了一股新的活力。傳統(tǒng)膜厚測量方法，如機(jī)械式測厚儀、光學(xué)干涉儀等，雖然在一定程度上滿足了工業(yè)生產(chǎn)和科研的基本需求，但在面對復(fù)雜多變、尺度微小的薄膜材料時，...
查看全文膜厚測量儀這一準(zhǔn)確而高效的測量工具，正以其優(yōu)勢，解鎖了材料厚度測量的新境界，讓我們得以更深入地洞察微觀世界的奧秘。膜厚測量儀是一種用于測量材料表面薄膜厚度的儀器。它利用物理或化學(xué)原理，通過非接觸式或接觸式的方式，對材料表面的薄膜進(jìn)行精確測量。相較于傳統(tǒng)的測量方法，膜厚儀具有更高的精度、更快的測量速度和更廣的應(yīng)用范圍。無論是金屬、塑料、陶瓷還是半導(dǎo)體材料，膜厚儀都能輕松應(yīng)對，提供準(zhǔn)確的測量結(jié)果。在材料科學(xué)領(lǐng)域，膜厚測量儀的應(yīng)用尤為廣泛。在半導(dǎo)體行業(yè)中，芯片表面的薄膜厚度直接影響...
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